XD-1000金屬電鍍XRF鍍層測厚儀

毛細管聚焦X熒光鍍層測厚儀儀器簡介：

此系列產品可測量金屬準直無法測量的微區，多導毛細聚焦管光學元件的光束尺寸可小至5μm，因此可以測量微電子設備、高級電路板、連接器、引腳框架和晶片的超微小區域。

可以測量納米級的鍍層，毛細聚焦管能將更多的X射線輸出聚焦到樣品上，可以敏感的反應鍍層納米級厚度變化。其焦斑小區域上的X射線強度比金屬準直系統高出幾個數量級。

可以實現更高的測試精度，毛細管聚焦X射線從而特征X射線強度更高，探測器接受到高的計數率，信噪比更好，可以得到更好的測試精度和置信區間。

更好的測試穩定性，探測器計數率高，測試結果波動更小，樣品鍍層、含量的測量更為精準。

XD-1000金屬電鍍XRF鍍層測厚儀參數規格 

型號：XD-1000金屬電鍍XRF鍍層測厚儀元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。 同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）任意多個可選擇的分析和識別模型。相互獨立的基體效應校正模型。多變量非線性回收程序度適應范圍為15℃至30℃。電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源。 外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm 樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm重量：90kg 

XD-1000金屬電鍍XRF鍍層測厚儀產品特點 

開放式樣品腔。精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。 信號檢測電子電路。高低壓電源。X光管。高度傳感器保護傳感器計算機及噴墨打印機 Si-PIN半導體探測器優點
能量線性好能量分辨率高，分辨率在160±5ev時間響應快，時間分辨好窗口材料薄靈敏區厚度可調結構簡單，體積小，重量輕對磁場不靈敏 

公司介紹

 Thick800A金屬電鍍XRF鍍層測厚儀是集多年的經驗，研發用于鍍層行業的一款儀器，可全自動軟件操作，可多點測試，由軟件控制儀器的測試點，以及移動平臺。是一款功能強大的儀器，配上專門為其開發的軟件，在鍍層行業中可謂大展身手，得到了客戶的廣泛應用和認可。金屬鍍層測厚儀可以測試鍍鋅、鍍鎳、鍍鉻、鍍銅、鍍錫、鍍鐵、鍍鈷、鍍鎘、鍍金、鍍銀等電鍍鍍層厚度進行快速無損分析，多一次可以測5層。

產品用途

金屬電鍍XRF鍍層測厚儀主要測試金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。主要用于貴金屬加工和首飾加工行業；銀行，首飾銷售和檢測機構；電鍍行業。