XTU-50B X射線熒光譜儀鍍層厚度測(cè)試儀

XTU-50B X射線熒光譜儀鍍層厚度測(cè)試儀是一款設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)緊湊，模塊精密化程度*的鍍層測(cè)厚儀，采用了下照式C型腔體設(shè)計(jì)，不但可以測(cè)量各種微小樣品，即使大型超出樣品腔尺寸的工件也可測(cè)量，是一款測(cè)量涂鍍層成分及厚度性價(jià)比高、適用性強(qiáng)的機(jī)型。

應(yīng)用領(lǐng)域

線路板、引線框架及電子元器件接插件檢測(cè)

鍍純金、K金、鉑、銀等各種飾品的膜層成分和厚度分析

手表、精密儀表制造行業(yè)

釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB

汽車、五金、電子產(chǎn)品等緊固件的表面處理檢測(cè)

衛(wèi)浴產(chǎn)品、裝飾把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)

電鍍液的金屬陽(yáng)離子檢測(cè)

XTU-50B X射線熒光譜儀鍍層厚度測(cè)試儀性能優(yōu)勢(shì)：

下照式設(shè)計(jì)：可以快速方便地定位對(duì)焦樣品。

無(wú)損變焦檢測(cè):可對(duì)各種異形凹槽進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)，凹槽深度范圍0-90mm.

微聚焦射線裝置：可檢測(cè)面積小于0.002mm2的樣品，可測(cè)試各微小的部件。

高效率的接收器：即使測(cè)試0.01mm2以下的樣品，幾秒鐘也能達(dá)到穩(wěn)定性。

精密微型滑軌：快速定位樣品。

EFP*算法軟件：多層多元素，甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件。

項(xiàng)       目 參        數(shù)
測(cè)量元素范圍 Cl（17）-U（92）
涂鍍層分析范圍 各種元素及有機(jī)物
分析軟件 EFP，可同時(shí)分析23層鍍層，24種元素，不同層有相同元素也可分析
軟件操作 人性化封閉軟件，自動(dòng)提示校正和步驟，避免操作錯(cuò)誤
X射線裝置 W靶微聚焦加強(qiáng)型射線管
準(zhǔn)直器 ? 0.05 mm  ；? 0.1 mm；? 0.2 mm；? 0.5 mm；準(zhǔn)直器任意選擇一種
近測(cè)距光斑擴(kuò)散度 10%
測(cè)量距離 具有距離補(bǔ)償功能，可改變測(cè)量距離，能測(cè)量凹凸異型樣品，變焦距離0-30mm(特殊要求可以升級(jí)到90mm)
樣品觀察 1/2.5彩色CCD，變焦功能
對(duì)焦方式 高敏感鏡頭，手動(dòng)對(duì)焦
放大倍數(shù) 光學(xué)38-46X，數(shù)字放大40-200倍
樣品臺(tái)尺寸 500mm*360mm
移動(dòng)方式 高精密XY手動(dòng)滑軌
可移動(dòng)范圍 50mm*50mm
隨機(jī)標(biāo)準(zhǔn)片 十二元素片、Ni/Fe 5um、Au/Ni/Cu 0.1um/2um
其它附件 聯(lián)想電腦一套、噴墨打印機(jī)、附件箱

XTU-50B X射線熒光譜儀鍍層厚度測(cè)試儀性能特點(diǎn)：

技術(shù)指標(biāo)：

應(yīng)用領(lǐng)域：

黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè).

金屬鍍層的厚度測(cè)量, 電鍍液和鍍層含量的測(cè)定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行，首飾銷售和檢測(cè)機(jī)構(gòu)；電鍍行業(yè)